Abstracto

Comparación del láser de diodo de 980 nm y la solución Q-Mix solos y en combinación para eliminar la capa de frotis de la superficie del conducto radicular; un estudio con microscopio electrónico de barrido

Quratul-Ain Zafar, Waqas Javied Malik, Saima Azam

Objetivo: El objetivo de este estudio fue comparar la eficacia del láser de diodo de 980 nm y la solución QMix 2 en 1 (DENTSPLY Tulsa Dental Specialties) solos y en combinación, para la eliminación de la capa de barrillo dentinario de los conductos radiculares.
Antecedentes: La capa de barrillo dentinario es una capa amorfa que se forma en las paredes del conducto radicular después de la instrumentación. Esta capa debe eliminarse ya que puede albergar bacterias y productos bacterianos y evita la penetración de medicamentos intraconductos en los túbulos dentinarios. Recientemente se han propuesto técnicas de agitación por irrigación para eliminar la capa de barrillo dentinario de manera más eficiente. El láser de diodo tiene el potencial de activar el irrigante y se necesitan estudios para establecer su eficacia para la eliminación de la capa de barrillo dentinario
, especialmente de los tercios apicales de los conductos.
Métodos: Se utilizaron cuarenta dientes humanos permanentes unirradiculares extraídos. Los conductos radiculares se prepararon hasta la longitud de trabajo completa utilizando limas K manuales (MANI) hasta 40K. Los dientes preparados se dividieron en cuatro grupos (n = 10): Grupo 1, sin irrigación; Grupo 2, solución QMix 2 en 1; Grupo 3, láser de diodo; Grupo 4, QMix 2 en 1 en combinación con un láser de diodo. Las raíces se dividieron longitudinalmente y se prepararon para la investigación con microscopio electrónico de barrido (SEM). Las raíces divididas se examinaron para detectar la capa de barrillo restante en la porción coronal, media y apical de cada conducto bajo un microscopio electrónico de barrido (JSM5910, JEOL, Japón) con un aumento de 1000x.
Resultados: La eliminación de la capa de barrillo se calificó de acuerdo con el sistema de calificación de Guttman para las puntuaciones de la capa de barrillo restante (Gutmann et al.). El láser de diodo en combinación con la solución QMix tuvo las puntuaciones de capa de barrillo más bajas.
Conclusiones: La irradiación con láser de diodo en combinación con la solución QMix 2 en 1 elimina eficazmente la capa de barrillo de los tercios apicales de los conductos radiculares.

Descargo de responsabilidad: este resumen se tradujo utilizando herramientas de inteligencia artificial y aún no ha sido revisado ni verificado